デバイス試験向け -Device Testing-
超高周波数振動試験機【 0.5Hz〜350kHz 】
用途
- ECU の振動試験、出荷検査
- 電子部品の品質管理
- センサー開発 etc...
構成例（シェーカー：SE-09）
- 周波数 ~ 50,000 Hz
- 加速度 ~ 400 m/s2
デバイス出力をコントロールシステムへ
異常振動を検知
SPEKTRA社の製品では、350kHzまでの高周波振動試験を可能にします。共振をはじめとした振動特性を計測でき、性能向上を図る開発試験において欠かせないソリューションです。また生産ラインでの抜き打ち出荷検査として、不良品検知率を上げ品質向上に貢献します。
SPEKTRA社は、振動・音響の校正機製造で培った長年の技術や経験を生かし、デバイス開発試験や高品質管理を目的とした最先端のソリューションやサービスを提供致します。
SPEKTRA社は、振動・音響の校正機製造で培った長年の技術や経験を生かし、デバイス開発試験や高品質管理を目的とした最先端のソリューションやサービスを提供致します。
SE-16
周波数
5,000Hz - 100,000Hz
加速度
400m/s2
ペイロード
5グラム
SE-11
周波数
1,000Hz - 50,000Hz
加速度
400m/s2
ペイロード
10グラム
SE-13
周波数
5Hz - 50,000Hz
加速度
600m/s2
ペイロード
350グラム
SE-09
周波数
0Hz - 4,000Hz
加速度
60m/s2
ペイロード
25,000グラム
各種試験波形を生成可能
サイン波、ランダム波、スイープ加振、フィールドデータの再現など様々な試験条件を生成します。
その他各種試験機
振動試験機（低周波数）
- 周波数DC 〜400Hz
- 推進力 最大900N
- 試験品重量 23kgまで
磁場試験機
- 磁束密度 最大10mT
- 試験品寸法（一様な磁場空間） 40mm 角
- 3軸AC/DCでの磁場生成が可能
温度試験機
- 温度範囲 -80°C〜+225°C
- 温度変化速度 最大 2000K/ 分
- 振動/磁場試験機と組み合わせ可能
